增感屏-胶片组合体系的威纳频谱测试探讨

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摘要: 目的　通过实验测试增感屏-胶片组合体系的威纳频谱(Wiener spectrum，WS)，评价X线照片的粒状性。方法　制作CaWO4屏- Kodak片、BaFCl:Eu屏- Kodak片、T颗粒技术3种增感屏-胶片组合体系的10 cm×10 cm粒状性抽样照片，用显微密度计扫描，获得10万个密度值，作为离散随机信号来处理，用快速傅立叶变换（fast Fourier transform，FFT）计算WS。结果　（1）BaFCl:Eu屏-Kodak片的WS值：当空间频率为0.1 LP/mm时,WS值为8.26×10-5mm2,分别是T颗粒技术、CaWO4屏- Kodak片取得照片WS值的2.25倍、1.53倍；当空间频率为0.5 LP/mm时,WS值为5.23×10-5 mm2,分别是T颗粒技术、CaWO4屏- Kodak片取得照片WS值的2.68倍、1.42倍。（2）管电压由80 kV增加到90 kV时，T颗粒技术在各频率下的WS值均有所增加。结论　BaFCl:Eu屏- Kodak片组合体系的WS最大，T颗粒技术改善了照片的斑点问题，其WS值最小,故最好是采用T颗粒技术。

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