计算机X线摄影系统中总威纳频谱测试的探讨
- 作者单位
- 天津市第一中心医院放射科 山东泰山医学院放射系
- 刊名
- 中华放射学杂志
- 年份
- 2002
- 卷号
- 第36卷
- 期号
- 第5期
- 页码
- 7-10
- ISSN
- 1005-1201
- 分类号
- TH774
- 摘要
- 目的 研究计算机X线摄影 (computedradiography,CR)系统中总威纳频谱 (Wienerspectrum ,WS)随影像处理的变化。方法 利用常规X线机对成像板 (imagingplate,IP)曝光 ,改变空间频率处理的参数频率等级 (frequencyrank ,RN)、频率类型 (frequencytype,RT)、增强强度 (degreeofenhancement,RE)以及谐调处理参数旋转量 (rotationamount,GA)来制作总的WS抽样照片 ,用显微密度计扫描 ,通过快速傅立叶变换来计算总的WS。结果 (1)当空间频率为 1 0LP/mm时 ,副扫描方向上的总WS值为 7 2 6× 10 -5mm2 ,是主扫描方向上总WS值的 1 5 7倍 ,在高空间频率范围内出现峰值。(2 )当空间频率为 1 0LP/mm时 ,主扫描方向上RN =0的总WS值为 7 90× 10 -5mm2 ,是RN =5的WS值的 1 70倍 ,是RN =9的WS值的 3 30倍。 (3)当空间频率为 1 0LP/mm时 ,主扫描方向上RE =1 5的总WS值为 1 0 5...更多
- 学科
- 【教育部学科】工学
- 文献类型
- 期刊
- 浏览量
- 34
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被引次数
超星被引:17;
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收录
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核
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统计源
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